詳細摘要： PCB-BiasHAST測試偏壓老化測試系統，B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統適用于IC封裝，半導體，微電子芯 片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、...
產品型號：所在地：成都市更新時間：2025-07-17 在線留言
成都四洋科技有限公司
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詳細摘要： PCB-BiasHAST測試偏壓老化測試系統，B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統適用于IC封裝，半導體，微電子芯 片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、...
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詳細摘要： CAF測試系統 HAST半導體芯片BiasHAST測試，CAF是指印制線路板內部在電場作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸的導電性金屬鹽構成的電化學遷移。它通常發生在...
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詳細摘要： zonglen HAST偏壓老化測試系統，B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統適用于IC封裝，半導體，微電子芯 片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽...
產品型號：zonglen所在地：成都市更新時間：2025-07-17 在線留言
詳細摘要： 絕緣電阻劣化（離子遷移CAF） 評估系統，評估系統,絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經過長時間的測試（1～10...
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